System-on-Chip Test Architectures: Nanometer Design for Testability (Systems on Silicon)

432 ج.م.
Liveغير متوفر

Modern electronics testing has a legacy of more than 40 years. The introduction of new technologies, especially nanometer technologies with 90nm or smaller geometry, has allowed... المزيد عند كتب مصر

اشتريه من كتب مصر

سعر ومواصفات System-on-Chip Test Architectures: Nanometer Design for Testability (Systems on Silicon)

  • أفضل سعر لـ System-on-Chip Test Architectures: Nanometer Design for Testability (Systems on Silicon) من كتب مصر فى مصر هو 432 ج.م.
  • طرق الدفع المتاحة هى
    دفع عند الاستلام
  • تكلفة التوصيل هى 10 ج.م., والتوصيل فى خلال 5-8 أيام
  • تباع المنتجات المماثلة لـ System-on-Chip Test Architectures: Nanometer Design for Testability (Systems on Silicon) فى كتب مصر مع اسعار تبدأ من 420 ج.م.
  • أول ظهور لهذا المنتج كان فى أغسطس 20, 2014
  • من بين المنتجات المماثلة لـ System-on-Chip Test Architectures: Nanometer Design for Testability (Systems on Silicon) أرخص سعر هو 420 ج.م. من كتب مصر

وصف كتب مصر

Modern electronics testing has a legacy of more than 40 years. The introduction of new technologies, especially nanometer technologies with 90nm or smaller geometry, has allowed the semiconductor industry to keep pace with the increased performance-capacity demands from consumers. As a result, semiconductor test costs have been growing steadily and typically amount to 40% of today's overall product cost. This book is a comprehensive guide to new VLSI Testing and Design-for-Testability techniques that will allow students, researchers, DFT practitioners, and VLSI designers to master quickly System-on-Chip Test architectures, for test debug and diagnosis of digital, memory, and analog/mixed-signal designs. KEY FEATURES * Emphasizes VLSI Test principles and Design for Testability architectures, with numerous illustrations/examples. * Most up-to-date coverage available, including Fault Tolerance, Low-Power Testing, Defect and Error Tolerance, Network-on-Chip (NOC) Testing, Software-Based Self-Testing, FPGA Testing, MEMS Testing, and System-In-Package (SIP) Testing, which are not yet available in any testing book. * Covers the entire spectrum of VLSI testing and DFT architectures, from digital and analog, to memory circuits, and fault diagnosis and self-repair from digital to memory circuits. * Discusses future nanotechnology test trends and challenges facing the nanometer design era; promising nanotechnology test techniques, including Quantum-Dots, Cellular Automata, Carbon-Nanotubes, and Hybrid Semiconductor/Nanowire/Molecular Computing. * Practical problems at the end of each chapter for students.

مميزات وعيوب System-on-Chip Test Architectures: Nanometer Design for Testability (Systems on Silicon)

  • لا يوجد تقييمات لهذا المُنتج.

منتجات مماثلة

منتجمتجرسعرطرق الدفعمدة التوصيلرسوم الشحن والتوصيل

متجر: كتب مصر

سعر: 420 ج.م.طرق الدفع:
دفع عند الاستلام
مدة التوصيل: 5-8 أيام رسوم التوصيل: 10 ج.م. اشتريه

متجر: كتب مصر

سعر: 520 ج.م.طرق الدفع:
دفع عند الاستلام
مدة التوصيل: 5-8 أيام رسوم التوصيل: 10 ج.م. اشتريه

متجر: كتب مصر

سعر: 528 ج.م.طرق الدفع:
دفع عند الاستلام
مدة التوصيل: 5-8 أيام رسوم التوصيل: 10 ج.م. اشتريه

متجر: كتب مصر

سعر: 576 ج.م.طرق الدفع:
دفع عند الاستلام
مدة التوصيل: 5-8 أيام رسوم التوصيل: 10 ج.م. اشتريه

متجر: كتب مصر

سعر: 576 ج.م.طرق الدفع:
دفع عند الاستلام
مدة التوصيل: 5-8 أيام رسوم التوصيل: 10 ج.م. اشتريه

متجر: كتب مصر

سعر: 596.40 ج.م.طرق الدفع:
دفع عند الاستلام
مدة التوصيل: 5-8 أيام رسوم التوصيل: 10 ج.م. اشتريه